Zaman, Syahiduz
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-1822-0517
(2026)
Bibliometrika: Sejarah, hukum, teori sitasi, indikator, dan etika pengukuran ilmu.
PENERBIT MITRA CENDEKIA MEDIA, Kabupaten Sijunjung, Sumatra Barat.
ISBN 978-634-298-109-2
UNSPECIFIED : UNSPECIFIED.
|
Text
28860.pdf Restricted to Repository staff only Download (1MB) |
Abstract
Buku ini mengajak pembaca memahami bibliometrika bukan sekadar sebagai alat menghitung sitasi, melainkan sebagai cara berpikir untuk mengukur dan menilai perkembangan ilmu. Penulis memulai pembahasan dari akar sejarahnya, saat para peneliti pertama kali memetakan pertumbuhan literatur. Uraian selanjutnya menelusuri hukum-hukum dasar yang menjelaskan pola produksi dan penyebaran karya ilmiah, seperti hukum Lotka, Bradford, dan Zipf. Penulis kemudian mengulas teori sitasi, menjelaskan alasan seorang ilmuwan merujuk karya lain serta makna yang sebuah sitasi indikatori. Bagian berikutnya membahas beragam indikator yang banyak menilai peneliti, jurnal, dan institusi, mulai dari impact factor sampai h-index, lengkap dengan kelebihan serta keterbatasannya. Buku ini tidak berhenti pada teknis angka. Penulis menyediakan ruang khusus untuk membicarakan etika pengukuran ilmu, menyoroti cara sebagian pihak menyalahgunakan indikator, tekanan “publish or perish”, serta pentingnya menilai kualitas secara adil. Bahasa yang runtut dan mudah pembaca ikuti membuat buku ini cocok bagi mahasiswa, dosen, pustakawan, maupun pengelola riset yang ingin menguasai dasar teoritis di balik angka-angka penentu arah karier akademik.
| Item Type: | Book |
|---|---|
| Keywords: | bibliometrik; scientometrik; vosviewer; publish or perish |
| Subjects: | 08 INFORMATION AND COMPUTING SCIENCES > 0807 Library and Information Studies |
| Divisions: | Faculty of Technology > Department of Informatics Engineering |
| Depositing User: | Syahiduz Zaman |
| Date Deposited: | 17 Sep 2026 13:18 |
Downloads
Downloads per month over past year
Origin of downloads
Actions (login required)
![]() |
View Item |

Altmetric
Altmetric